Automated Abstraction of Nonlinear Analog Circuits to Reliable Set-Valued Models with Reduced Overapproximation

verfasst von: Malgorzata Rechmal-Lesse, Yeremia Gunawan Adhisantoso, Gerald Alexander Koroa, Markus Olbrich
Abstract: This paper tackles the analog and mixed-signal modeling for verification challenges. It proposes an adjustable automated modeling approach, which provides set-valued models with reduced overapproximation. The models reliably enclose parameter variations and modeling errors. The reduced overapproximation is obtained by computing the intersecting set of models with intervals and affine forms. The nonlinear circuit examples show a reduced overapproximation up to 86%.
Organisationseinheit(en): Institut für Mikroelektronische Systeme
Typ: Artikel
Journal: Microelectronics Reliability
Band: 121
ISSN: 0026-2714
Publikationsdatum: 06.2021
Publikationsstatus: Veröffentlicht
Peer-reviewed: Ja
ASJC Scopus Sachgebiete: Elektronische, optische und magnetische Materialien, Atom- und Molekularphysik sowie Optik, Physik der kondensierten Materie, Sicherheit, Risiko, Zuverlässigkeit und Qualität, Oberflächen, Beschichtungen und Folien, Elektrotechnik und Elektronik
Elektronische Version(en): https://doi.org/10.1016/j.microrel.2021.114119 (Zugang: Geschlossen)