Instruction-Set Extension for an ASIP-based SIFT Feature Extraction

verfasst von

Nico Mentzer, Guillermo Paya-Vaya, Holger Blume, Nora Von Egloffstein, Werner Ritter

Organisationseinheit(en)

Institut für Mikroelektronische Systeme

Externe Organisation(en)

Daimler AG

Typ

Aufsatz in Konferenzband

Seiten

335-342

Anzahl der Seiten

8

Publikationsdatum

08.09.2014

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja

ASJC Scopus Sachgebiete

Elektrotechnik und Elektronik, Hardware und Architektur, Modellierung und Simulation

Elektronische Version(en)

https://doi.org/10.1109/SAMOS.2014.6893230 (Zugang: Geschlossen)