An Integrated Heated Testbench for Characterizing High Temperature ICs

verfasst von

Fritz Webering, Guillermo Payá Vayá, Evan Aditya, Jan Christoph Dürre, Holger Christoph Blume

Organisationseinheit(en)

Fachgebiet Architekturen und Systeme

Typ

Aufsatz in Konferenzband

Anzahl der Seiten

18

Publikationsdatum

2017

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Elektronische Version(en)

https://www.researchgate.net/publication/316878613_An_Integrated_Heated_Testbench_for_Characterizing_High_Temperature_ICs (Zugang: Offen)
https://doi.org/10.15488/13694 (Zugang: Offen)