Institute of Microelectronic Systems Research
Untersuchung zur Simulation von Bauelementen und Komponenten für die Entwicklung strahlenrobuster autonomer Systeme

Untersuchung zur Simulation von Bauelementen und Komponenten für die Entwicklung strahlenrobuster autonomer Systeme

Led by:  PD Dr.-Ing. Dipl.-Phys. Kirsten Weide-Zaage
E-Mail:  weide-zaage@ims.uni-hannover.de
Year:  2015
Duration:  01.02.2015-31.12.2017
Is Finished:  yes

Ziele

Die Bestimmung der maßgeblichen Eigenschaften, die das Erkennen auch anhand von Kenndaten aus Datenblättern für die Beschreibung der technologischen Prozesse erlaubt, hilft bei Ermittlung von strahlungsresistente Komponenten. Damit soll eine Reduzierung der Testzeiten und Testmargen erzielt werden, Die simulationstechnischen Untersuchungen zur Bestimmung des Einflusses der verschiedenen Strahlungsarten auf das Verhalten unterschiedlicher Bauelemente und Komponenten sowie gehäuster Komponenten hinsichtlich ihrer Strahlungshärte mit Blick auf die Identifizierung und Charakterisierung der Technologischen Parametern zur Härtung der elektronischen Bauteile. Die Eignung von Bauelementen und Komponenten für die Entwicklung strahlungsrobuster autonomer Systeme, die insbesondere mit einer langen Verweildauer in einer strahlenbelasteten Umgebung ihren Einsatz finden, hängt stark von der Dimensionierung sowie dem Herstellungsprozess der Bauelemente und Komponenten ab.