Logo Leibniz Universität Hannover
Logo: Institut für Mikroelektronische Systeme
Logo Leibniz Universität Hannover
Logo: Institut für Mikroelektronische Systeme
  • Zielgruppen
  • Suche
 

Dipl.-Ing. Aymen Moujbani


Wissenschaftlicher Mitarbeiter
Institut für Mikroelektronische Systeme
Arbeitsgruppe Zuverlässigkeit: Simulation und Risikoanalyse
Appelstraße 9A
30167 Hannover
Raum: 1706a Appelstraße 9A (17th floor)

Telefon:+49 (0)511 762 5020
Fax:+49 (0)511 762 5024
E-Mail:moujbaniims.uni-hannover.de

Bild von Dipl.-Ing. Aymen Moujbani

Arbeitsgebiete

 

  • TCAD und Geant4 Strahlungssimulation
  • Elektrische und mechanische Stresssimulation mit ANSYS
  • Zuverlässigkeitsuntersuchung

 

Forschungsschwerpunkte

 

  • Entstehung von Single Event Effects (SEE)
  • Verwendbarkeit von handelsübliche Elektronik (COTS) in Strahlungsumgebung
  • Strahlungshärtung