A design for robust wide metal tracks

verfasst von

M. Ackermann, V. Hein, C. Kovács, K. Weide-Zaage

Abstract

By this article an introduction of a highly robust metal track layout especially suitable for high current and temperature applications will be introduced. Starting with the reliability limitations normally observed for wide metal tracks, conclusions regarding the requirements for robust layout techniques will be drawn. An optimized structure will be presented as well as the very promising results of first reliability investigations. It will be demonstrated that and how the optimized design is reducing the occurrence of degradation and instability effects.

Organisationseinheit(en)

Laboratorium f. Informationstechnologie

Externe Organisation(en)

X-FAB Silicon Foundries SE

Typ

Artikel

Journal

Microelectronics reliability

Band

52

Seiten

2447-2451

Anzahl der Seiten

5

ISSN

0026-2714

Publikationsdatum

09.2012

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja

ASJC Scopus Sachgebiete

Elektronische, optische und magnetische Materialien, Atom- und Molekularphysik sowie Optik, Sicherheit, Risiko, Zuverlässigkeit und Qualität, Physik der kondensierten Materie, Oberflächen, Beschichtungen und Folien, Elektrotechnik und Elektronik

Elektronische Version(en)

https://doi.org/10.1016/j.microrel.2012.07.012 (Zugang: Unbekannt)