Preface

verfasst von
Małgorzata Chrzanowska-Jeske, Kirsten Weide-Zaage
Organisationseinheit(en)
Institut für Mikroelektronische Systeme
Institut für Risiko und Zuverlässigkeit
Externe Organisation(en)
Portland State University
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Typ
Vorwort/Nachwort
Seiten
xiii-xvii
Publikationsdatum
25.11.2016
Publikationsstatus
Veröffentlicht
Peer-reviewed
Ja
ASJC Scopus Sachgebiete
Ingenieurwesen (insg.)
Elektronische Version(en)
https://doi.org/10.1201/9781315368948 (Zugang: Geschlossen)