Experimental Radiation Effect Characterization for Microelectronics

verfasst von

Eike Trumann, Gia Bao Thieu, Guillermo Pava Vaya, Kirsten Weide-Zaage

Abstract

In the process of developing high-reliability microelectronics, experimental radiation testing plays a vital role in assuring the durability and correct functionality of the device. As three major classes of radiation effects affect components, different radiation qualification tests must be combined to give comprehensive radiation hardness assurance. This work provides an overview of radiation testing standards, radiation sources, and important considerations for radiation testing.

Organisationseinheit(en)

Institut für Mikroelektronische Systeme

Externe Organisation(en)

Technische Universität Braunschweig

Typ

Aufsatz in Konferenzband

Publikationsdatum

27.01.2025

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja

ASJC Scopus Sachgebiete

Elektrotechnik und Elektronik, Wirtschaftsingenieurwesen und Fertigungstechnik, Sicherheit, Risiko, Zuverlässigkeit und Qualität, Elektronische, optische und magnetische Materialien, Instrumentierung

Elektronische Version(en)

https://doi.org/10.23919/PanPacific65826.2025.10908937 (Zugang: Geschlossen)