Dominik Christian Langhorst, M. Sc.
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Adresse
Appelstraße 4
30167 Hannover
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Gebäude
Raum
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Publikationsliste
First 1
2025
A Serial Transparent AXI Bridge for Cross-Chip Integration. / Fiedler, Till; Marten, Jakob; Langhorst, Dominik et al.
2025 23rd IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS). 2025. S. 480-484.Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
First 1 -
Forschungsprojekte
Systementwurf
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KIBI - KI-basierte Oberflächen-Inspektion & automatisierte Schadenserkennung für die KFZ-BegutachtungGemeinsam mit Dream Chip Technologies und der claimbird GmbH arbeitet das Institut für Mikroelektronische Systeme an der nächsten Generation der KFZ-Begutachtung. Das Entwicklungsziel: Eine KI-gestützte Oberflächen-Inspektionslösung mit automatisierter Schadenserkennung durch die Fusion von Computer Vision und Tiefendaten.Leitung: Prof. Dr.-Ing. Holger BlumeTeam:Jahr: 2025Förderung: Europäischen Fonds für regionale Entwicklung (EFRE), Land NiedersachsenLaufzeit: 2025-2027
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