Institute of Microelectronic Systems Studies Final exams and theses Abgeschlossene Arbeiten
Entwurf und Evaluation eines TTA-basierten ASIP für die Extraktion von SIFT-Merkmalen

Entwurf und Evaluation eines TTA-basierten ASIP für die Extraktion von SIFT-Merkmalen

Led by:  Nicolai Behmann, M.Sc.
Team:  Jens Schleusner, B.Sc.
Year:  2016
Is Finished:  yes